بررسی ساختاری لایه های نازک cds ساخته شده روی زیرلایه های با شرایط متفاوت

لایه های نازک سولفید کادمیم، با استفاده از روش تبخیر آنی با نرخ لایه نشانی nm/s 5/2 و ضخامت تقریبی nm 800 در خلاء )6-10 5 تور( ساخته شدند. در این پژوهش، به منظور مطالعه آثار زیرلایه روی خواص ساختاری نمونه ها، از دو نوع زیر لایه، شیشه و ( ito )indium tin oxide استفاده گردید. خواص ساختاری نمونه ها توسط پراش اشعه ایکس مورد بررسی قرار گرفت. محاسبه پارامترهای ساختاری آشکار نمود که نمونه های ساخته شده روی زیر لایه ito از ساختار بلوری بهتری برخوردار است. همچنین محاسبات مربوط به نقایص بلوری و تنش در نمونه ها نشان می دهد که لایه های  تهیه شده بر روی زیر لایه ito دارای کیفیت بهتری هستند. لایه های تهیه شده بر روی زیرلایه شیشه به مدت یک ساعت در دماهای 200 و 300 درجه سانتیگراد تحت خلاء بازپخت گردیدند تا اثر عملیات حرارتی بر روی خواص ساختاری آنها مورد بررسی قرار گیرد. طیف پراش اشعه ایکس نمونه های تهیه شده بر روی زیرلایه شیشه نشان داد که خواص بلوری پس از عملیات حرارتی بهبود یافته است.